ANSI/ASTM E1161-1995 半导体和电子元件的放射性检查的试验方法

作者:标准资料网时间:2024-05-06 14:06:33 浏览:9333 来源:标准资料网

【英文标准名称】:TestMethodforRadiologicExaminationofSemiconductorsandElectronicComponents
【原文标准名称】:半导体和电子元件的放射性检查的试验方法
【标准号】:ANSI/ASTME1161-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;电气工程;放射性试验;元部件;半导体
【英文主题词】:components;semiconductors;electricalengineering;testing;radiographictesting
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:
【正文语种】:英语

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标准名称：	漆树育苗技术规程
发布部门：	陕西省质量技术监督局
发布日期：	2007-10-09
实施日期：	2007-10-09
首发日期：
作废日期：
出版日期：	2007-10-09