IEC 60749-32 AMD 1-2010 修改件1.半导体器件.机械和环境试验方法.第32部分:塑料密封器件的易燃性(外部引起的)

作者:标准资料网时间:2024-05-14 18:07:19 浏览:8534 来源:标准资料网

【英文标准名称】:AMENDMENT1Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part32:Flammabilityofplastic-encapsulateddevices(externallyinduced)
【原文标准名称】:修改件1.半导体器件.机械和环境试验方法.第32部分:塑料密封器件的易燃性(外部引起的)
【标准号】:IEC60749-32AMD1-2010
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2010-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:温度变化;气候试验;组件;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;环境测试;环境试验;易燃性;热学;可燃性;集成电路;机械测试;塑料;耐力;半导体器件;半导体;试验;外观检查(测试)
【英文主题词】:Changesoftemperature;Climatictests;Components;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Inflammability;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Plastics;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing;Visualinspection(testing)
【摘要】:AMENDMENT1Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part32:Flammabilityofplastic-encapsulateddevices(externallyinduced)
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:8P.;A4
【正文语种】:

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